На відміну від аналогів для дефектоскопа DIO 1000 PA не використовуються громіздкі додаткові модулі, відбувається просте підключення різних фазованих решіток з подальшою миттєвою ініціалізацією. Основна перевага методу - значне підвищення швидкості сканування, яке може здійснюватися без поперечних переміщень перетворювачів. Разом з легкістю та мініатюрними габаритами приладу, процес знаходження дефектів у раніше недоступних та у важкодоступних місцях значно прискорюється та спрощується. Фазовані решітки можуть використовуватися як у ручному режимі, так і в механізованому (накопичення масиву даних з виведенням у вигляді редагованого C-scan) з використанням сканерів.
Візуалізація відбувається з використанням фазованих грат. Це дає можливість виробляти візуалізацію дефектів у вигляді різних сканів (А, B, C, S та W - сканів).
Основна перевага методу - значне підвищення швидкості сканування, яке може здійснюватися без поперечних переміщень перетворювачів. Разом з легкістю та мініатюрними габаритами приладу, процес знаходження дефектів у раніше недоступних та у важкодоступних місцях значно прискорюється та спрощується.
Можуть використовуватися як у ручному режимі, так і в механізованому (накопичення масиву даних з виведенням у вигляді редагованого C-scan) з використанням сканерів.
- PPA 2L16W-1610
- PPA 4L16W-1610
- PPA 5L16W-1610
- PPA 10L16W-1610
- PPA 2L32W-3210
- PPA 4L32W-3210
- PPA 5L32W-3210
- PPA 10L32W-3210
- PPA 2L16W-1610
- PPA 4L16W-1610
- PPA 5L16W-1610
- PPA 10L16W-1610
- PPA 2L32W-3210
- PPA 4L32W-3210
- PPA 5L32W-3210
- PPA 10L32W-3210
Основні технічні характеристики перетворювачів
16 / 32
2 MГц / 4 MГц / 5 MГц / 10 MГц
Molex
16×10 мм, крок 1 мм